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  • 產(chǎn)品詳情
    • 產(chǎn)品名稱:CHOTEST白光干涉儀3D表面輪廓儀

    • 產(chǎn)品型號:SuperViewW1
    • 產(chǎn)品廠商:CHOTEST
    • 產(chǎn)品價(jià)格:0
    • 折扣價(jià)格:0
    • 產(chǎn)品文檔:
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    簡單介紹:
    CHOTEST白光干涉儀3D表面輪廓儀可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。
    詳情介紹:

    產(chǎn)品功能
    1)設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能;
    2)測量中提供自動(dòng)對焦、自動(dòng)找條紋、自動(dòng)調(diào)亮度等自動(dòng)化輔助功能;
    3)測量中提供自動(dòng)拼接測量、定位自動(dòng)多區(qū)域測量功能;
    4)分析中提供校平、圖像修描、去噪和濾波、區(qū)域提取等四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能;
    5)分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能;
    6)分析中同時(shí)提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。

    結(jié)果組成
    1、三維表面結(jié)構(gòu):粗糙度,波紋度,表面結(jié)構(gòu),缺陷分析,晶粒分析等;
    2、二維圖像分析:距離,半徑,斜坡,格子圖,輪廓線等;
    3、表界面測量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面;
    4、薄膜和厚膜的臺階高度測量;
    5、劃痕形貌,摩擦磨損深度、寬度和體積定量測量;
    6、微電子表面分析和MEMS表征。

    形貌儀主要應(yīng)用領(lǐng)域
    1、用于太陽能電池測量;
    2、用于半導(dǎo)體晶圓測量;
    3、用于鍍膜玻璃的平整度(Flatness)測量;
    4、用于機(jī)械部件的計(jì)量;
    5、用于塑料,金屬和其他復(fù)合型材料工件的測量。

     

    中圖W1光學(xué)3D輪廓儀可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。


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